積分時間越長：累積的電荷越多，信號強度越大。

積分時間越短：采集速度越快，適合高速檢測。

為什么不是越長越好？

1. 暗電流會隨積分時間增長而增大

暗電流是探測器在沒有光照時，因熱激發產生的微小電流。暗電流與積分時間成正比——積分時間越長，暗電流累積越多，噪聲也隨之增大，反而會淹沒弱信號。

暗輸出電壓與積分時間成正比，積分時間越短，動態范圍越寬。

2. 動態圍會隨積分時間增大而減小

動態范圍描述的是光譜儀同時測量強信號和弱信號的能力。長積分時間下，暗電流升高，能夠有效區分的信號上限與下限之間的范圍就會縮小。

當最長積分時間增加，暗噪聲升高，分母變大，動態范圍自然減小。

3. 探測器可能達到飽和

如果積分時間過長，即使是中等強度的信號，也可能導致探測器像素內的電荷“滿阱溢出”——這就是我們常說的過曝或飽和。一旦飽和，光譜的峰值會被“削平”，數據失真，無法用于定量分析。

4. 時間成本與效率問題

對于高通量檢測或在線監測場景，長時間積分意味著單次采集耗時更長，無法滿足快速檢測的需求。例如，LIBS（激光誘導擊穿光譜）或工業實時監測，通常需要毫秒級的積分時間。